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Achieving high effective Q-factors in ultra-high vacuum dynamic force microscopy
In: Measurement Science and Technology, Jg. 21 H. 122010
Determining cantilever stiffness from thermal noise
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, Jg. 4, S. 227-2332013Modification of a commercial atomic force microscopy for low-noise, high-resolution frequency-modulation imaging in liquid environment
In: Review of Scientific Instruments, Jg. 82 H. 72011Quantitative description of C-60 diffusion on an insulating surface
In: Physical Review B, Jg. 82 H. 152010Thermal noise limit for ultra-high vacuum noncontact atomic force microscopy
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, Jg. 4, S. 32-442013