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Achieving high effective Q-factors in ultra-high vacuum dynamic force microscopy
Lübbe, Jannis
;
Tröger, Lutz
;
Torbrügge, Stefan
;
Bechstein, Ralf
;
Richter, Christoph
;
Kühnle, Angelika
;
Reichling, Michael
In: Measurement Science and Technology, Jg. 21 H. 12
