Titelaufnahme

• Titel
  Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
• Verfasser
  Kamischke, Ralf
• Betreuer
  Benninghoven, Alfred ; Benninghoven, A. ; Benninghoven, A. ; Benninghoven, A. ; Benninghoven, A. ; Benninghoven, A.
• Erschienen
  2001
• Sprache
  Deutsch
• Dokumenttyp
  Dissertation
• Schlagwörter (DE)
  Nanostruktur / Sekundärionen-Massenspektrometrie / Flugzeitmassenspektrometrie / Oberfläche / Laserionisation
• URN
  urn:nbn:de:hbz:6-85659551309