In dieser Arbeit wird eine Methode zur Bestimmung von partiellen Zwei-Teilchen-Strukturfaktoren aus Elementverteilungsbildern am Beispiel der spinodalen Entmischung einer Eisen-Chrom-Legierung vorgestellt. Hierbei wird auf die unterschiedlichen experimentellen Einflüsse durch die energiefilternde Elektronenmikroskopie eingegangen. Insbesondere das Slowscan CCD-Kamerasystem zeichnet sich durch unterschiedliches Verhalten je nach Beleuchtungsintensität aus. Mit dieser Methode lassen sich dann elementaufgelöst die partiellen Zwei-Teilchen-Strukturfaktoren bestimmen. Mit diesen erhält man dann zu Kleinwinkelstreuexperimenten vergleichbare Daten, die nur mit sehr hohem Aufwand elementaufgelöste Daten erlauben. Als Ergänzung hierzu werden die Ergebnisse von Simulationen ungeordneter Strukturen gezeigt. Insgesamt zeigt sich eine hohe Vergleichbarkeit der experimentellen Ergebnisse, so dass diese Methode als wertvolle Ergänzung zu bestehenden Methoden betrachtet werden kann.

In this work a method to calculate partial two-particle-structure-factors from energy filtered elemental maps is presented using the example of spinodal decomposition of an alloy consisting of iron and chromium. Special care has to be taken to describe the behavior of a slow-scan CCD camera depending on the illumination intensity during image acquisition. Considering these artifacts, the modulation transfer function of the camera and the inelastic transfer function of specimen and microscope it is then possible to calculate the partial two-particle-structure-factors with elemental sensitivity. The resulting data set is comparable to small angle scattering experiments where considerable effort has to be afforded to achieve elemental sensitivity. Additionally the results of simulated disordered structures are presented to verify the comparability of the presented structure factors with those of small angle. The method presented here is a valuable addition to existing methods measuring partial two-particle- structure-factors.