TY  - THES
A3  - Benninghoven, Alfred
A3  - Benninghoven, A.
A3  - Benninghoven, A.
A3  - Benninghoven, A.
A3  - Benninghoven, A.
A3  - Benninghoven, A.
AB  - Ziel der Arbeit war es, die Einflüsse der Primärionenspezies (Ga, Cs, SF5, Au, Au2, Au3) und -energie (4-25 keV) auf die Emission molekularer Sekundärionen von organischen Substraten zu untersuchen. Als Proben wurden additivfreie LDPE-Folien verwendet, die mit einer Monolage des Antioxidants Irganox 1010 bedeckt waren. Die Untersuchungen zeigen, dass durch eine Variation der PI-Parameter (Übergang von monoatomaren zu hochenergetischen, polyatomaren Projektilen) die Effizienz der SI-Bildung um mehrere Größenordnungen gesteigert und zugleich eine verstärkte Desorption intakter Molekülionen (geringere Fragmentierung) erreicht werden kann. Zur qualitativen Erklärung dieser beobachteten Abhängigkeiten wird ein einfaches Modell entwickelt. Die durch den molekularen Beschuss erreichten Empfindlichkeitssteigerungen eröffnen neue Möglichkeiten zum analytischen Einsatz der TOF-SIMS wie abschließend einige Beispiele zur Identifizierung, Quantifizierung und Lokalisierung von Additiven zeigen.
AU  - Kersting, Reinhard
DA  - 2002
KW  - TOF-SIMS
KW  - polyatomare Primärionen
KW  - Additive
KW  - Polymere
KW  - Sekundärionenmassenspektrometrie
LA  - ger
PY  - 2002
TI  - Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:6-85659548832
Y2  - 2024-12-27T10:12:32
ER  -