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Bestimmung der Auflösungsgrenze in Elementverteilungsaufnahmen von Schichtsystemen
Heil, Tobias
2010
Characterization of amorphous materials using the three particle structure factor
Vrana, Semir
2020
Elektronenmikroskopische Untersuchung des Implantat-Knochen-Interface von sofortbelastbaren Implantaten
Läkamp, Julia
2006
Ionenleitende Borat- und Silikatglasschichten
Strukturelle und Elektrische Charakterisierung mit Hilfe von TEM und Impedanzspektroskopie
Berkemeier, Frank
2007
Structural and functional analysis of the nuclear pore complex in Saccharomyces cerevisiae
Farr, Julia Christina
2009