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Titelaufnahme
Titel
Dual beam FIB methods for nano-prototyping and their application in magnetic thin film sensor development and microscopy
Verfasser
Büker, Björn
Gutachter
Hütten, Andreas
Erschienen
2021
Sprache
Englisch
Dokumenttyp
Dissertation
URN
urn:nbn:de:0070-pub-29594472
DOI
10.4119/unibi/2959447
Zugriffsbeschränkung
Das Dokument ist frei verfügbar
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Dual beam FIB methods for nano-prototyping and their application in magnetic thin film sensor development and microscopy
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Klassifikation
Klassifikation (DDC)
→
Naturwissenschaften und Mathematik
→
Physik
→
Physik
Statistik
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Lizenz-/Rechtehinweis
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