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Thickness dependence of the work function in double-layer metallic films
In: Zeitschrift für Physik, B: Condensed Matter, Jg. 77 H. 3, S. 399-407
Thickness-dependent effects in the work function of polycrystalline Cu-Films
In: Europhysics letters, Jg. 9 H. 4, S. 379-384Thickness-dependent thin-film resistivity: application of quantitative scanning-tunneling-microscopy imaging
In: Physical review B, Jg. 43 H. 6, S. 5176-5179