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Thermal noise limit for ultra-high vacuum noncontact atomic force microscopy
Lübbe, Jannis
;
Temmen, Matthias
;
Rode, Sebastian
;
Rahe, Philipp
;
Kühnle, Angelika
;
Reichling, Michael
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, Jg. 4, S. 32-44
