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The weight function for charges-A rigorous theoretical concept for Kelvin probe force microscopy
Söngen, Hagen
;
Rahe, Philipp
;
Neff
,
Julia
L.
;
Bechstein, Ralf
;
Ritala, Juha
;
Foster, Adam S.
;
Kühnle, Angelika
In: Journal of Applied Physics, Jg. 119 H. 2, S. 25304 ff.
