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Application of a threshold electron spectrometer in spin resolved photoelectron analysis
Heckenkamp, Ch.
;
Schäfers, F.
;
Heinzmann, Ulrich
;
Frey, R.
;
Schlag
, E. W.
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Jg. 208 H. 1-3, S. 805-808
