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Growth and structure of polycrystalline Cr/Au multilayered thin films
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Reiss, Günter
;
Hoffmann, Horst
In: Thin solid films, Jg. 250 H. 1-2, S. 56-60
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Hastreiter, E.
In: Journal of applied physics, Jg. 70 H. 1, S. 523-525