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Resistivity and the Hall effect in polycrystalline Ni-Cu and Ta-Cu multi-layered thin films
Reiss, Günter
;
Vancea, Johann
;
Kapfberger, Klaus
;
Meier, G.
;
Hoffmann, Horst
In: Journal of Physics, Condensed Matter, Jg. 1 H. 7, S. 1275-1283
