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Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis
Reiss, Günter ; Brückl, Hubert ; Vancea, Johann ; Lecheler, R. ; Hastreiter, E.
In: Journal of applied physics, Jg. 70 H. 1, S. 523-525
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: tip-shape-limited resolution
Reiss, Günter ; Vancea, Johann ; Wittmann, H. ; Zweck, Josef ; Hoffmann, Horst
In: Journal of applied physics, Jg. 67 H. 3, S. 1156-1159

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