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Modification of a commercial atomic force microscopy for low-noise, high-resolution frequency-modulation imaging in liquid environment
Rode, Sebastian
;
Stark, R.
;
Lübbe, Jannis
;
Tröger, Lutz
;
Schütte, Jens
;
Umeda, K.
;
Kobayashi, Kei
;
Yamada, Hirofumi
;
Kühnle, Angelika
In: Review of Scientific Instruments, Jg. 82 H. 7
