2 Titel in Klassifikation (DDC) → Naturwissenschaften und Mathematik → Physik → Physik 3
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Modification of a commercial atomic force microscopy for low-noise, high-resolution frequency-modulation imaging in liquid environment
In: Review of Scientific Instruments, Jg. 82 H. 7
Thermal noise limit for ultra-high vacuum noncontact atomic force microscopy
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, Jg. 4, S. 32-44