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Bestimmung der Auflösungsgrenze in Elementverteilungsaufnahmen von Schichtsystemen
Heil, Tobias
2010
Characterization of amorphous materials using the three particle structure factor
Vrana, Semir
2020
Charakterisierung ungeordneter Strukturen anhand von partiellen Strukturfaktoren aus Elementverteilungsbildern
Kreyenschulte, Carsten R. ; Kreyenschulte, Carsten ; Kreyenschulte, Carsten Robert
2015
Energiegefilterte Rückstreuelektronen-Abbildung und -Spektroskopie im Rasterelektronenmikroskop
Hoffmeister, Hilmar
2003