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Ultrahigh vacuum scanning-tunneling microscope for in situ studies of annealing and electromigration behavior of thin films
Reiss, Günter
;
Levine, L. E.
;
Smith, D. A.
In: Journal of Vacuum Science and Technology, B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 11 H. 1, S. 108-111
Untersuchungen von dünnen Aluminiumoxid-Schichten
Czerkas, Slawomir
2004