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Literatur
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Kamischke, Ralf
2001
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
Grehl, Thomas
2003
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Kersting, Reinhard
2002
